DIN 50441-2-1982 半导体工艺材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.边缘倒棱测量

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 17:22:06  浏览:8281   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;measurementofthegeometricdimensionsofsemiconductorslices;testingofedgerounding
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.边缘倒棱测量
【标准号】:DIN50441-2-1982
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1982-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半成品;材料;定义;半导体;测量;试验;电子工程;尺寸
【英文主题词】:testing;semiconductors;measurement;materials;dimensions;definitions;semi-finishedproducts;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语