IEC 61675-2 AMD 1-2004 放射性核素成像设备.特性和试验条件.第2部分:单光子发射计算断层摄影.修改件1

作者:标准资料网时间:2024-05-10 12:58:05 浏览:9008 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Radionuclideimagingdevices-Characteristicsandtestconditions-Part2:Singlephotonemissioncomputedtomographs;Amendment1
【原文标准名称】:放射性核素成像设备.特性和试验条件.第2部分:单光子发射计算断层摄影.修改件1
【标准号】:IEC61675-2AMD1-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC62C
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射学;试验;试验报告;测量;质量保证;辐照器;电气工程;放射性核素;定义;排放;放射疗法;医疗技术学;光子束;摄影机;诊断;计算机断层摄影;核医学;试验条件;成象
【英文主题词】:Cameras;Computedtomography;Definitions;Diagnosis;Electricalengineering;Emission;Imaging;Investigations;Irradiationapparatus;Measurement;Medicalsciences;Medicaltechnology;Nuclearmedicine;Photonbeams;Qualityassurance;Radiology;Radionuclides;Radiotherapy;Systems;Terminology;Testing;Testingconditions;Tomographs
【摘要】:SinceIEC61675-2wasfirstpublishedin1998,furtherdevelopmentsofsinglephotoncomputertomographsallowsomeofthetomographstobeoperatedincoincidencedetectionmodeaswell.Tocomplywiththistrend,thisamendmentdescribestestcondition
【中国标准分类号】:C43
【国际标准分类号】:11_040_50
【页数】:28P.;A4
【正文语种】:英语

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MIL-DTL-24784B, DETAIL SPECIFICATION: MANUALS, TECHNICAL: GENERAL ACQUISITION AND DEVELOPMENT REQUIREMENTS, GENERAL SPECIFICATION FOR (15 FEB 2002)., This specification sets forth the general acquisition, format, content, anddevelopment requirements of technical manuals (see 6.5.45) and related data in support ofweapons systems (see 6.5.52) and equipment (see 6.2 and 6.5.19).【英文标准名称】:Surfacemountingtechnology-Environmentalandendurancetestmethodsforsurfacemountsolderjoint-Part1-3:Cyclicdroptest(IEC62137-1-3:2008);GermanversionEN62137-1-3:2009
【原文标准名称】:表面安装技术.表面安装焊接点用环境和持久测试方法.第1-3部分:循环跌落试验(IEC62137-1-3-2008).德文版本EN62137-1-3-2009
【标准号】:EN62137-1-3-2009
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2009-07
【实施或试行日期】:2009-07-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:弯曲试验;温度变化;连续性试验;定义;分立器件;跌落试验;耐久性;电气工程;电子工程;电子设备及元件;耐久试验;耐用试验;环境测试;集成电路;寿命;材料测试;多语种的;工作温度;可靠性;半导体器件;表面安装设备;软钎焊连接;焊接点;表面安装;表面安装装置;温度循环;耐高温;温度变化试验;试验;热循环;耐热冲击能力;耐热冲击强度
【英文主题词】:Bendtesting;Changesoftemperature;Continuitytests;Definitions;Discretedevices;Droptests;Durability;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Endurancetesting;Endurancetests;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Life(durability);Materialstesting;Multilingual;Operatingtemperatures;Reliability;Semiconductordevices;SMD;Solderedjoints;Solderingpoints;Surfacemounting;Surfacemountingdevices;Temperaturecycles;Temperatureresistant;Testonchangesoftemperature;Testing;Thermalcycling;Thermalshockendurance;Thermalshockresistance
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语